Mitani, Yuichiro: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (76)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Morphological stability of 4H-SiC crystals in solution growth on {0001} and {

Mitani, Takeshi, Komatsu, Naoyoshi, Hayashi, Yuichiro, Kato, Tomohisa, Okumura, Hajime

Журнал:

Journal of Crystal Growth

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 985 KB

english, 2016

2

Influence of Nitrogen on Negative Bias Temperature Instability in Ultrathin SiON

Mitani, Yuichiro, Satake, Hideki, Toriumi, Akira

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 395 KB

english, 2008

3

Physically unclonable function using initial waveform of ring oscillators on 65 nm CMOS technology

Tanamoto, Tetsufumi, Takaya, Satoshi, Sakamoto, Nobuaki, Kasho, Hirotsugu, Yasuda, Shinichi, Marukame, Takao, Fujita, Shinobu, Mitani, Yuichiro

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 730 KB

english, 2017

4

Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) distribution in n-MOSFET with HfSiON gate dielectrics under DC and AC stressing

Hirano, Izumi, Nakasaki, Yasushi, Fukatsu, Shigeto, Goto, Masakazu, Nagatomo, Koji, Inumiya, Seiji, Sekine, Katsuyuki, Mitani, Yuichiro, Yamabe, Kikuo

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.08 MB

english, 2013

5

[IEEE 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium - Montreal, QC, Canada (2009.04.26-2009.04.30)] 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium - Impact of metal gate electrode on Weibull distribution of TDDB in HfSiON gate dielectrics

Hirano, Izumi, Nakasaki, Yasushi, Fukatsu, Shigeto, Masada, Akiko, Mitani, Yuichiro, Goto, Masakazu, Nagatomo, Koji, Inumiya, Seiji, Sekine, Katsuyuki

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 477 KB

english, 2009

6

Extracting Physically Unclonable Function From Spin Transfer Switching Characteristics in Magnetic Tunnel Junctions

Marukame, Takao, Tanamoto, Tetsufumi, Mitani, Yuichiro

Журнал:

IEEE Transactions on Magnetics

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 678 KB

english, 2014

7

Unified Transient and Frequency Domain Noise Simulation for Random Telegraph Noise and Flicker Noise Using a Physics-Based Model

Higashi, Yusuke, Momo, Nobuyuki, Sasaki, Hiroki, Momose, Hisayo Sasaki, Ohguro, Tatsuya, Mitani, Yuichiro, Ishihara, Takamitsu, Matsuzawa, Kazuya

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.12 MB

english, 2014

8

Modification of the surface morphology of 4H-SiC by addition of Sn and Al in solution growth with SiCr solvents

Komatsu, Naoyoshi, Mitani, Takeshi, Hayashi, Yuichiro, Kato, Tomohisa, Harada, Shunta, Ujihara, Toru, Okumura, Hajime

Журнал:

Journal of Crystal Growth

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.55 MB

english, 2017

9

Mechanism of gate dielectric degradation by hydrogen migration from the cathode interface

Higashi, Yusuke, Takaishi, Riichiro, Kato, Koichi, Suzuki, Masamichi, Nakasaki, Yasushi, Tomita, Mitsuhiro, Mitani, Yuichiro, Matsumoto, Masuaki, Ogura, Shohei, Fukutani, Katsuyuki, Yamabe, Kikuo

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.46 MB

english, 2017

10

Influence of Additives on Surface Smoothness and Polytype Stability in Solution Growth of n-Type 4H-SiC

Komatsu, Naoyoshi, Mitani, Takeshi, Hayashi, Yuichiro, Kato, Tomohisa, Okumura, Hajime

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 916 KB

english, 2018

11

Evaluation of electron traps in SiN x by discharge current transient spectroscopy: verification of validity by comparing with conventional DLTS

Seki, Harumi, Yamamoto, Kazuhiko, Mitani, Yuichiro

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 699 KB

english, 2019

12

Investigation of Switching-Induced Local Defects in Oxide-Based CBRAM Using Expanded Analytical Model of TDDB

Ichihara, Reika, Fujii, Shosuke, Yamaguchi, Marina, Yoshimura, Yoko, Mitani, Yuichiro, Saitoh, Masumi

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.01 MB

english, 2019

13

[IEEE 2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM) - Singapore, Singapore (2019.3.12-2019.3.15)] 2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM) - Random Telegraph Noise after Hot Carrier Injection in Tri-gate Nanowire Transistor

Ota, Kensuke, Ichihara, Reika, Suzuki, Masamichi, Saitoh, Masumi, Mitani, Yuichiro

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 176 KB

english, 2019

14

Granulocyte colony stimulating factor-producing tongue carcinoma

Arata Horii, Kazuo Shimamura, Yuichiro Honjo, Kenji Mitani, Tomohiro Miki, Shodayu Takashima, Jun-Ichi Yoshida

Журнал:

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 506 KB

english, 1997

15

DNA ploidy, proliferative activities, and immunophenotype of malignant lymphoma: Application of flow cytometry

Arata Horii, Jun-ichi Yoshida, Kenji Hattori, Yuichiro Honjo, Kenji Mitani, Shodayu Takashima, Masahide Sakai, Shigeru Okamoto, Takeshi Kubo

Журнал:

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 86 KB

english, 1998

16

Atomic-scale theory on current-assisted thermochemical degradation mode and its field acceleration via charge trapping of O vacancy in HfSiO4

Yasushi Nakasaki, Izumi Hirano, Koichi Kato, Yuichiro Mitani

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 563 KB

english, 2009

17

Primary thyroid lymphoma associated with metastatic thyroid tumor: Discrimination with US

Arata Horii, Shodayu Takashima, Jun-ichi Yoshida, Yuichiro Honjo, Kenji Mitani, Takeshi Kubo

Журнал:

European Journal of Ultrasound

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 765 KB

english, 1998

18

Endoscopic submucosal dissection for residual/locally recurrent lesions after endoscopic therapy for colorectal tumors

Yuichiro Kuroki, Shu Hoteya, Toshifumi Mitani, Satoshi Yamashita, Daisuke Kikuchi, Ai Fujimoto, Akira Matsui, Masanori Nakamura, Noriko Nishida, Toshiro Iizuka, Naohisa Yahagi

Журнал:

Journal of Gastroenterology and Hepatology

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.05 MB

english, 2010

19

ENDOSCOPIC SUBMUCOSAL DISSECTION FOR SUBMUCOSAL INVASIVE GASTRIC CANCER AND CURABILITY CRITERIA

Shu Hoteya, Satoshi Yamashita, Daisuke Kikuchi, Masanori Nakamura, Ai Fujimoto, Akira Matsui, Noriko Nishida, Toshihumi Mitani, Yuichiro Kuroki, Toshiro Iizuka, Naohisa Yahagi

Журнал:

Digestive Endoscopy

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 830 KB

english, 2011

20

Adult Capillary Hemangioma of the Liver: Report of a Case

Takehiro Noda, Yo Sasaki, Terumasa Yamada, Hidetoshi Eguchi, Ko Takachi, Shingo Noura, Isao Miyashiro, Kohei Murata, Yuichiro Doki, Hiroaki Ohigashi, Osamu Ishikawa, Shingi Imaoka, Hisashi Mitani, Shi

Журнал:

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 282 KB

english, 2005

21

O3+ cluster primary ion bombardment for secondary ion mass spectrometry

Hideyuki Yamazaki, Yuichiro Mitani

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 383 KB

english, 1997

22

Molecular analysis of PDGFRα/β genes in core binding factor leukemia with eosinophilia

Fumihiko Monma, Kazuhiro Nishii, Felipe Lorenzo V, Eiji Usui, Yuichiro Ueda, Yasuyuki Watanabe, Keiki Kawakami, Koji Oka, Hidetsugu Mitani, Takao Sekine, Shigehisa Tamaki, Minoru Mizutani, Fumiharu Ya

Журнал:

European Journal of Haematology

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 156 KB

english, 2006

23

Pre-operative assessment of metastatic parotid tumors

Arata Horii, Jun-ichi Yoshida, Yuichiro Honjo, Kenji Mitani, Shodayu Takashima, Takeshi Kubo

Журнал:

Auris Nasus Larynx

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.49 MB

english, 1998

24

Usefulness of endoscopic ultrasound for the prediction of intraoperative bleeding of endoscopic submucosal dissection for gastric neoplasms

Daisuke Kikuchi, Toshiro Iizuka, Shu Hoteya, Satoshi Yamashita, Masanori Nakamura, Yuichiro Kuroki, Toshihumi Mitani, Ai Fujimoto, Akira Matsui, Noriko Nishida, Naohisa Yahagi

Журнал:

Journal of Gastroenterology and Hepatology

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 615 KB

english, 2011

25

[American Institute of Aeronautics and Astronautics 6th Aeroacoustics Conference and Exhibit - Lahaina,HI,U.S.A. (12 June 2000 - 14 June 2000)] 6th Aeroacoustics Conference and Exhibit - Feed-back control systems for cabin noise reduction - Design study on basic panel element

Akishita, Sadao, Mitani, Yuichiro

Рік:

2000

Файл:

PDF, 356 KB

2000

26

Albumin gene targeting in human embryonic stem cells and induced pluripotent stem cells with helper-dependent adenoviral vector to monitor hepatic differentiation

Umeda, Kahoko, Suzuki, Keiichiro, Yamazoe, Taiji, Shiraki, Nobuaki, Higuchi, Yuichiro, Tokieda, Kumiko, Kume, Kazuhiko, Mitani, Kohnosuke, Kume, Shoen

Журнал:

Stem Cell Research

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.68 MB

english, 2013

27

MAX CLOËTTA

Matsui, Akira, Hashimoto, Mitsuyo, Nishida, Noriko, Yamashita, Satoshi, Fujimoto, Ai, Kuroki, Yuichiro, Nakamura, Masanori, Mitani, Toshifumi, Kikuchi, Daisuke, Iizuka, Toshiro, Hoteya, Shu, Yahagi, N

Журнал:

Рік:

1940

Мова:

english

Файл:

PDF, 335 KB

english, 1940

28

W1558: The Small-Caliber Endoscopy Is Effective Method to Diagnose the Neoplastic Lesion in a Complete Physical Examination

Matsui, Akira, Hashimoto, Mitsuyo, Nishida, Noriko, Yamashita, Satoshi, Fujimoto, Ai, Kuroki, Yuichiro, Nakamura, Masanori, Mitani, Toshifumi, Kikuchi, Daisuke, Iizuka, Toshiro, Hoteya, Shu, Yahagi, N

Журнал:

Gastrointestinal Endoscopy

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 86 KB

english, 2010

29

W1565: How Can Endoscopic Submucosal Dissection for Gastric Tumors Be Improved Better Using the Dual Knife?

Mitani, Toshifumi, Hoteya, Shu, Iizuka, Toshiro, Kuroki, Yuichiro, Nishida, Noriko, Matsui, Akira, Fujimoto, Ai, Nakamura, Masanori, Kikuchi, Daisuke, Yamashita, Satoshi, Yahagi, Naohisa

Журнал:

Gastrointestinal Endoscopy

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 117 KB

english, 2010

30

[IEEE 2013 International Conference on IC Design & Technology (ICICDT) - Pavia, Italy (2013.05.29-2013.05.31)] Proceedings of 2013 International Conference on IC Design & Technology (ICICDT) - Improvement of gate disturb degradation in SONOS FETs for Vth mismatch compensation in CMOS analog circuits

Suzuki, Masamichi, Kinoshita, Atsuhiro, Mitani, Yuichiro

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 387 KB

english, 2013

31

[IEEE 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium - Montreal, QC, Canada (2009.04.26-2009.04.30)] 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium - Dual nature of metal gate electrode effects on BTI and dielectric breakdown in TaC/HfSiON MISFETs

Fukatsu, Shigeto, Hirano, Izumi, Tatsumura, Kosuke, Masada, Akiko, Fujii, Shosuke, Mitani, Yuichiro, Goto, Masakazu, Inumiya, Seiji, Nakajima, Kazuaki, Kawanaka, Shigeru, Aoyama, Tomonori

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 340 KB

english, 2009

32

Structural and electrical evolution of gate dielectric breakdown observed by conductive atomic force microscopy

Zhang, Li, Mitani, Yuichiro

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 484 KB

english, 2006

33

[IEEE 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Phoenix, AZ, USA (2008.04.27-2008.05.1)] 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium - Influence of pre-existing and generated traps on reliability in HfSiON/SiO2 stacks with fluorine incorporation

Izumi Hirano,, Takeshi Yamaguchi,, Yasushi Nakasaki,, Katsuyuki Sekine,, Yuichiro Mitani,

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 481 KB

english, 2008

34

[IEEE 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Garden Grove (Anaheim), CA, USA (2010.05.2-2010.05.6)] 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Re-consideration of influence of silicon wafer surface orientation on gate oxide reliability from TDDB statistics point of view

Mitani, Yuichiro, Toriumi, Akira

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 405 KB

english, 2010

35

[IEEE 2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings - San Jose, CA, USA (2006.03.26-2006.03.30)] 2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings - A New Insight into the Breakdown Mechanism in Ultrathin Gate Oxides by Conductive Atomic Force Microscopy

Zhang, Li, Mitani, Yuichiro

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 386 KB

english, 2006

36

[IEEE 2007 IEEE International Electron Devices Meeting - Washington, DC, USA (2007.12.10-2007.12.12)] 2007 IEEE International Electron Devices Meeting - 15 nm Planar Bulk SONOS-type Memory with Double Junction Tunnel Layers using Sub-threshold Slope Control

Ohba, Ryuji, Mitani, Yuichiro, Sugiyama, Naoharu, Fujita, Shinobu

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.15 MB

english, 2007

37

[IEEE 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Garden Grove (Anaheim), CA, USA (2010.05.2-2010.05.6)] 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Novel TDDB mechanism for p-FET accelerated by hydrogen from HfSiON film

Hirano, Izumi, Kato, Koichi, Nakasaki, Yasushi, Fukatsu, Shigeto, Mitani, Yuichiro, Goto, Masakazu, Inumiya, Seiji, Sekine, Katsuyuki, Sato, Motoyuki

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 453 KB

english, 2010

38

Dielectric properties of noncrystalline

Koike, Masahiro, Ino, Tsunehiro, Kamimuta, Yuuichi, Koyama, Masato, Kamata, Yoshiki, Suzuki, Masamichi, Mitani, Yuichiro, Nishiyama, Akira

Журнал:

Physical Review B

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 277 KB

english, 2006

39

[IEEE 2008 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - San Francisco, CA, USA (2008.12.15-2008.12.17)] 2008 IEEE International Electron Devices Meeting - 10 nm bulk-planar SONOS-type memory with double tunnel junction and sub-10 nm scaling utilizing source to drain direct tunnel sub-threshold

Ohba, Ryuji, Mitani, Yuichiro, Sugiyama, Naoharu, Fujita, Shinobu

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 621 KB

english, 2008

40

[IEEE 2014 IEEE Symposium on VLSI Technology - Honolulu, HI, USA (2014.6.9-2014.6.12)] 2014 Symposium on VLSI Technology (VLSI-Technology): Digest of Technical Papers - Further understandings on random telegraph signal noise through comprehensive studies on large time constant variation and its strong correlations to thermal activation energies

Chen, Jiezhi, Higashi, Yusuke, Kato, Koichi, Mitani, Yuichiro

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 908 KB

english, 2014

41

[IEEE 2006 International Electron Devices Meeting - San Francisco, CA, USA (2006.12.11-2006.12.13)] 2006 International Electron Devices Meeting - 25 nm Planar Bulk SONOS-type Memory with Double Tunnel Junction

Ohba, Ryuji, Mitani, Yuichiro, Sugiyama, Naoharu, Fujita, Shinobu

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 345 KB

english, 2006

42

[IEEE 2011 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Monterey, CA, USA (2011.04.10-2011.04.14)] 2011 International Reliability Physics Symposium - Experimental study on origin of VTH variability under NBT stress

Mitani, Yuichiro, Toriumi, Akira

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 444 KB

english, 2011

43

Mutations in the genes encoding eukaryotic translation initiation factor 2B in Japanese patients with vanishing white matter disease

Shimada, Shino, Shimojima, Keiko, Sangu, Noriko, Hoshino, Ai, Hachiya, Yasuo, Ohto, Tatsuyuki, Hashi, Yuichiro, Nishida, Katsuya, Mitani, Maki, Kinjo, Saori, Tsurusaki, Yoshinori, Matsumoto, Naomichi,

Журнал:

Brain and Development

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 907 KB

english, 2015

44

[ECS 215th ECS Meeting - San Francisco, CA (May 24 - May 29, 2009)] ECS Transactions - Impact of Deuterium and Fluorine Incorporation on Weibull Distribution of Dielectric Breakdown in Gate Dielectrics

Mitani, Yuichiro, Satake, Hideki, Toriumi, Akira

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.40 MB

english, 2009

45

ECS Transactions [ECS 218th ECS Meeting - Las Vegas, NV (October 10 - October 15, 2010)] - (Invited) A Study of Dielectric Breakdown Mechanisms in MG/HK MISFETs: From the Viewpoint of TDDB Statistics

Hirano, Izumi, Kato, Koichi, Nakasaki, Yasushi, Fukatsu, Shigeto, Sato, Motoyuki, Inumiya, Seiji, Goto, Masakazu, Sekine, Katsuyuki, Mitani, Yuichiro

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.83 MB

english, 2010

46

Obesity and Gastrointestinal Diseases

Fujimoto, Ai, Hoteya, Shu, Iizuka, Toshiro, Ogawa, Osamu, Mitani, Toshifumi, Kuroki, Yuichiro, Matsui, Akira, Nakamura, Masanori, Kikuchi, Daisuke, Yamashita, Satoshi, Furuhata, Tsukasa, Yamada, Akihi

Журнал:

Gastroenterology Research and Practice

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 112 KB

english, 2013

47

Relationship between Magnetoresistance and Lattice Uncertainty at the Interface in Sputtered Fe/Cr Multilayer Films

Takanashi, Kōki, Obi, Yoshihisa, Mitani, Yuichiro, Fujimori, Hiroyasu

Журнал:

Journal of the Physical Society of Japan

Рік:

1992

Файл:

PDF, 497 KB

1992

48

Characteristics of Defect Generation and Breakdown in SiO$_{2}$ for Polycrystalline Silicon Channel Field-Effect Transistor

Hirano, Izumi, Saitoh, Masumi, Numata, Toshinori, Mitani, Yuichiro

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 891 KB

english, 2012

49

Suppression of Stress-Induced Leakage Current of Wet and Dry SiO 2 by SiD 4 Poly-Si Gate Electrode

Mitani, Yuichiro, Satake, Hideki

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 183 KB

english, 2003

50

Double Junction Tunnel Using Si Nanocrystalline Layer for Nonvolatile Memory Devices

Ohba, Ryuji, Mitani, Yuichiro, Sugiyama, Naoharu, Matsumoto, Mari, Fujita, Shinobu

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 103 KB

english, 2011